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花鍵環(huán)規(guī)使用方法

1. 綜合通端環(huán)規(guī)：
   用于控制工件外花鍵的作用齒厚最大值和漸開線起始圓直徑最大值，使用時應*通過整個被測花鍵。
   被綜合通端環(huán)規(guī)通過的，說明工件外花鍵的總公差（T+λ）符合極限要求，滿足花鍵配合。但綜合通端環(huán)規(guī)不能判斷工件外花鍵的制造公差T、綜合公差λ各自的符合性，需要通過測量工件外花鍵的實際齒厚（跨棒距），或者對工件外花鍵的齒距累積誤差、齒形誤差、齒向誤差進行單項測量后分析觀察來確認。
   如果被綜合通端環(huán)規(guī)止住的，環(huán)規(guī)是提供不了止住的具體原因，這同樣需要通過測量工件外花鍵的實際齒厚（跨棒距），或者對工件外花鍵的齒距累積誤差、齒形誤差、齒向誤差進行單項測量后分析觀察來確認。

2、綜合止端環(huán)規(guī)：
用于控制工件外花鍵的作用齒厚最小值 Svmin,使用時不應進入被測花鍵。
被綜合止端環(huán)規(guī)止住的，說明工件外花鍵的總公差（T+λ）符合極限要求。但綜合止端環(huán)規(guī)不能判斷工件外花鍵的制造公差T、綜合公差λ各自的符合性，需要通過測量工件外花鍵的實際齒厚（跨棒距），或者對工件外花鍵的齒距累積誤差、齒形誤差、齒向誤差進行單項測量后分析觀察來確認。
如果被綜合止端環(huán)規(guī)通過的，說明工件外花鍵的總公差（T+λ）超過了極限要求，但綜合止端環(huán)規(guī)不能判斷是工件外花鍵的制造公差T還是綜合公差λ的不符合性，同樣需要通過測量工件外花鍵的實際齒厚（跨棒距），或者對工件外花鍵的齒距累積誤差、齒形誤差、齒向誤差進行單項測量后分析觀察來確認。
3、非全齒通端環(huán)規(guī)：
用于控制工件外花鍵的實際齒厚最大值Smax 和漸開線起始圓直徑最大值，使用時應*通過整個被測花鍵，檢驗應該至少分布在三個盡可能等分的位置。
如果被非全齒通端環(huán)規(guī)止住，說明工件外花鍵實際齒厚最大值（跨棒距上極限）超過了極限要求。
4、非全齒止端環(huán)規(guī)：
用于控制工件外花鍵的實際齒厚最小值Smin, 使用時不應進入被測花鍵，檢驗應該至少分布在三個盡可能等分的位置。
如果被非全齒止端環(huán)規(guī)通過，說明工件外花鍵實際厚最小值（跨棒距下極限）超過了極限要求。
如果進入被測花鍵不超過工件花鍵長度的1/3時，考慮工件花鍵加工刀具的耐用性與成本，工件外花鍵也可以被接受，當然這取決于使用單位。
5、工件外花鍵檢驗方法：
工件外花鍵的檢測方法一般采用綜合通端環(huán)規(guī)和非全齒止端環(huán)規(guī)的這種組合形式來控制。
6、花鍵環(huán)規(guī)使用規(guī)則爭議的判定
花鍵環(huán)規(guī)應該用在對工件外花鍵不產生任何外力破壞的情況下。
在檢驗工件外花鍵中發(fā)生爭議時，如果花鍵環(huán)規(guī)是符合設計標準，且經計量檢驗合格的，則花鍵環(huán)規(guī)是合格的，如果該工件外花鍵被環(huán)規(guī)驗收合格，則改工件也應作為合格處理。
如果同類別有兩個或多個符合圖紙要求的花鍵環(huán)規(guī)，且經計量檢驗都是合格的，但檢測工件外花鍵時產生了爭議，那么判斷工件外花鍵合格的花鍵環(huán)規(guī)應該被優(yōu)先使用。
由于齒距累積誤差包括了分度誤差和花鍵實際軸線相對于加工基準或測量基準的偏心兩部分，該偏心對用于檢測花鍵配合形式為齒側配合的花鍵環(huán)規(guī)是沒有影響的，因此應將分度誤差同花鍵的偏心分離開來，即花鍵環(huán)規(guī)的齒距累積誤差判定應該是在偏心量為零的情況